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ADVANCED NANOSCALE CHARACTERIZATION CONCEPTS FOR COPPER INTERCONNECTION TECHNOLO
Título:
ADVANCED NANOSCALE CHARACTERIZATION CONCEPTS FOR COPPER INTERCONNECTION TECHNOLO
Subtítulo:
Autor:
BERTHOLD, TOBIAS
Editorial:
PUBLICACIONS UNIVERSITAT BARCELONA
ISBN:
978-84-490-7286-4
Páginas:
200
Disponibilidad:
Consultar
5,20 €